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SICK位移测量传感器
名称:  SICK位移测量传感器
型号:  SICK
品牌:  SICK
产地:  德国
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发布时间:  2018-11-19
浏览次数:  5809
产品详情

  SICK位移测量传感器是激光传感器,可精确测量,测量范围高达1,000 mm。由于它们的测量精度,它们特别适用于质量控制工作流程和对成本有影响的过程中的控制,分类和检查任务。通常测量的特征包括尺寸,位置和形状。使用SICK位移测量传感器可通过100%质量检测提高最终产品的质量,同时降低材料和停机成本。

  SICK位移测量传感器的概观:

  整个范围内的精确线条指导:OL1光学千分尺由于其微型设计而脱颖而出,并且小到足以适合最小的机器空间。由于LED对准辅助功能和用于对准集成到AOD1评估单元中的光带的功能,安装和对准发送器和接收器单元是孩子的游戏。特别是,OL1传感器通过高精度边缘引导功能显示其优势,例如电池生产中的电极材料的可重复引导或薄晶片的双层检测。由于具有高性能储备,OL1可以精确地确定半透明材料的边缘位置,或者可靠地将薄的纺织线或线材移回到正确的轨道上。

  · SICK位移测量传感器参数:

  · 测量范围: 10毫米

  · 通讯接口: 串口

  · 典型。光点尺寸(距离): 3 mm x 14 mm

  · 外壳材料: 铝压铸件

  · 连接类型: 带M8公连接器的电缆,4针Y型电缆,用于连接AOD1评估单元

  SICK位移测量传感器特点:

  · 微型金属外壳

  · 集成LED校准辅助

  · 高分辨率CMOS接收器,具有高重复性

  · 通过AOD1评估单元提供各种接口

  · 边缘位置或直径的测量

  · 通过AOD1评估单元进行个性化配置设置和计算功能

  微米范围内的精确检测,OL1是理想的光学千分尺,适用于有限空间和高性能要求的应用,这得益于其10 mm宽的光带和高重复性。无论是微小物体,螺纹还是网状材料:激光等级为1的传感器都能实现厚度测量和微米精度的位置确定,以确保可靠的过程控制。

可以从0.2 mm的尺寸向上可靠地检测物体

由于微米范围内的可重复性,可实现高精度材料引导

发送器和接收器之间的距离可达300 mm,使用灵活

  SICK位移测量传感器应用领域:

  · 电池电极的边缘控制

  · 螺纹或线的直径和位置监控

  · 处理晶圆时的双层检测

  · 半透明薄膜的指导

  · 测量发动机部件中的通孔

  · 压延过程中薄膜或织物网材料的厚度测量

  SICK位移测量传感器相关产品图片:

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